Oppgradering av Nikon Metrology XT H 225 ST

Eesmärk

UiO har i dag et Nikon Metrology XT H 225 ST mikrofokus-CT som ble anskaffet i 2013.

UiO V/ NHM har behov for å:

1)Å skanne fysisk større objekter enn det UiO nå har muligheter til (dette har bl.a. blitt kritisk nå i forbindelse med dokumentasjon av vikingskipsfunnet på Gjellestad);

2)Å skanne raskere enn det vi i dag har muligheter til

(skann som før har tatt flere dager vil nå kunne utføres på et par timer, dette vil øke produksjonen dramatisk)

3)Gi høyere oppløsning og følsomhet.enn det vi har i dag.